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51.
The structural evolution in amorphous silicon and germanium thin films has been investigated by high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM) in conjunction with autocorrelation function (ACF) analysis. The results established that the structure of as-deposited semiconductor films is of a high density of nanocrystallites embedded in the amorphous matrix. In addition, from ACF analysis, the structure of a-Ge is more ordered than that of a-Si. The density of embedded nanocrystallites in amorphous films was found to diminish with annealing temperature first, then to increase. The conclusions also corroborate well with the results of diminished medium-range order in annealed amorphous films determined previously by a variable coherence microscopy method. 相似文献
52.
Hui-Wen Lin 《Transactions of the American Mathematical Society》2002,354(5):1861-1868
In this article, we find some diagonal hypersurfaces that admit crepant resolutions. We also give a criterion for unique factorization domains.
53.
复合体系方法测量液体力学谱 总被引:2,自引:0,他引:2
本文介绍了采用复合体系,测量得到凝聚态物质从固态到液态连续变化力学谱的一种新的实验方法。以簧振动为例,给出了解析的计算公式,以及应用条件。通过进一步综合分析,得到具有更广应用范围的近似公式,可以近似应用于其他不同的振动模式,如低频扭摆。应用新的测量方法,给出了典型小分子玻璃材料甘油和碳酸丙稀从玻璃态到液态的力学谱,观察到甘油和碳酸丙稀玻璃化转变、碳酸丙稀的再结晶、熔化和挥发的过程;测量得到挥发过程中水的质量随时间精确变化的曲线。最后,本文给出了新方法的一些应用展望。 相似文献
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利用反应磁控溅射技术在BK-7基片上制备了二氧化钛和五氧化二铌均匀混合的光学薄膜.薄膜的内部微结构、表面形貌、化学成分比例以及光学性质等用X射线衍射、高分辨扫描电子显微镜、原子力显微镜、X射线光电子能谱和紫外可见近红外分光光度计进行研究;发现制备的薄膜为非晶结构,薄膜的表面平整、内部结构致密,不存在柱状结构或结晶颗粒的缺陷,TiO2与Nb2O5的成分比例大致是1∶1.54.从光学透射光谱计算的折射率和消光系数显示,在550 nm波长处的折射率为2.34,消光系数为2.0×10-4.结果表明制备的薄膜是TiO2和Nb2O5均匀混合的高质量光学薄膜. 相似文献
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